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ケツト科学研究所 プローブ HP-110 [63763881]
商品詳細
《仕様》
●L字型
●測定方式:渦電流式
●測定対象:非磁性金属上の絶縁被膜
●測定範囲:0~1200μm
●測定精度:50μm未満±1.0μm、50μm以上±2%
●対応器種:L-500
《特長》
●膜厚計L-500用新開発プローブです。
●渦電流式プローブ(非磁性金属素地用)。
●アプリケーションメモリを50本まで保存。
《仕様》
●L字型
●測定方式:渦電流式
●測定対象:非磁性金属上の絶縁被膜
●測定範囲:0~1200μm
●測定精度:50μm未満±1.0μm、50μm以上±2%
●対応器種:L-500
《特長》
●膜厚計L-500用新開発プローブです。
●渦電流式プローブ(非磁性金属素地用)。
●アプリケーションメモリを50本まで保存。
●L字型
●測定方式:渦電流式
●測定対象:非磁性金属上の絶縁被膜
●測定範囲:0~1200μm
●測定精度:50μm未満±1.0μm、50μm以上±2%
●対応器種:L-500
《特長》
●膜厚計L-500用新開発プローブです。
●渦電流式プローブ(非磁性金属素地用)。
●アプリケーションメモリを50本まで保存。
《仕様》
●L字型
●測定方式:渦電流式
●測定対象:非磁性金属上の絶縁被膜
●測定範囲:0~1200μm
●測定精度:50μm未満±1.0μm、50μm以上±2%
●対応器種:L-500
《特長》
●膜厚計L-500用新開発プローブです。
●渦電流式プローブ(非磁性金属素地用)。
●アプリケーションメモリを50本まで保存。
ケツト科学研究所 プローブ HP-110
【在庫数について】
商品ページに表示されている在庫数は通販サイト上の在庫数となります。各店舗の在庫数とは異なりますのでご注意ください。